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熱發(fā)射率儀的工作原理及重要指標(biāo)
2026-01-18

熱發(fā)射率儀(如TIR100-2型)的工作原理主要基于主動(dòng)式反射測(cè)量法,其核心是通過(guò)已知溫度的黑體輻射源與樣品表面的反射信號(hào)對(duì)比,間接計(jì)算出發(fā)射率值。具體步驟如下:一、工作原理1.黑體輻射源發(fā)射儀器內(nèi)部集成一個(gè)溫度恒定在100°C的半球形黑體...

  • 2025-12-17

    熱釋光劑量系統(tǒng)是一種基于熱釋光現(xiàn)象的輻射劑量測(cè)量技術(shù),通過(guò)檢測(cè)材料受輻射后加熱釋放的光信號(hào)強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)輻射劑量的精確量化。其核心原理在于,特定材料(如氟化鋰LiF、硫酸鈣CaSO?)受X射線、γ射線等電離輻射照射時(shí),材料晶格中的電子被激發(fā)并陷入晶格缺陷形成的“能量陷阱”。加熱時(shí),被俘獲的電子獲得能量逃逸,與空穴復(fù)合并釋放儲(chǔ)存的能量,以光的形式(熱釋光)發(fā)射,光強(qiáng)度與輻射劑量成正比,通過(guò)測(cè)量光強(qiáng)即可推算劑量值。該系統(tǒng)由熱釋光探測(cè)器、加熱裝置、光電轉(zhuǎn)換模塊及數(shù)據(jù)處理單元構(gòu)成。探測(cè)器...

  • 2025-12-16

    同位素識(shí)別儀是一種用于快速、非破壞性地檢測(cè)和識(shí)別放射性核素種類及其活度的高靈敏度核輻射探測(cè)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于核安全、環(huán)境監(jiān)測(cè)、海關(guān)安檢、應(yīng)急響應(yīng)、醫(yī)療放射管理及核科學(xué)研究等領(lǐng)域。其核心功能是通過(guò)分析γ射線(有時(shí)也包括中子)的能量譜特征,準(zhǔn)確判斷樣品或環(huán)境中存在的放射性同位素類型,如鈾-235、钚-239、銫-137、鈷-60、碘-131等。該儀器通常基于高純鍺(HPGe)或碘化鈉(NaI(Tl))等閃爍/半導(dǎo)體探測(cè)器構(gòu)建。其中,HPGe探測(cè)器具有高的能量分辨率,可精確區(qū)分能量相...

  • 2025-12-12

    手腳表面污染監(jiān)測(cè)儀主要檢測(cè)α和β射線污染,具體說(shuō)明如下:1.檢測(cè)對(duì)象:該儀器專用于測(cè)量人員手部、腳部及衣物表面的α、β放射性污染水平,適用于核電站、核燃料工廠、核醫(yī)學(xué)、放射性核素實(shí)驗(yàn)室等場(chǎng)所。其設(shè)計(jì)目的是防止放射性污染物擴(kuò)散,確保工作人員人身安全,避免內(nèi)照射情況發(fā)生。2.技術(shù)參數(shù):探測(cè)器類型:采用4個(gè)薄片式塑料閃爍體+ZnS涂層探測(cè)器,具備高靈敏度。測(cè)量部位:覆蓋腳部、手部(手掌及手背)及下臂區(qū)域。3.手腳表面污染監(jiān)測(cè)儀功能特點(diǎn):故障自診斷:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),確保檢測(cè)可靠...

  • 2025-12-11

    熱釋光劑量系統(tǒng)是一種基于熱釋光現(xiàn)象的輻射劑量測(cè)量技術(shù),通過(guò)檢測(cè)材料受輻射后加熱釋放的光信號(hào)強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)輻射劑量的精確量化。該系統(tǒng)憑借高靈敏度、寬能量響應(yīng)范圍及長(zhǎng)期穩(wěn)定性,廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、工業(yè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域,成為輻射防護(hù)與劑量控制的核心工具。其原理是當(dāng)特定材料(如氟化鋰LiF、硫酸鈣CaSO?)受X射線、γ射線等電離輻射照射時(shí),材料晶格中的電子被激發(fā)并陷入晶格缺陷形成的“能量陷阱”。加熱時(shí),被俘獲的電子獲得能量逃逸,與空穴復(fù)合并釋放儲(chǔ)存的能量,以光的形式(熱釋光)發(fā)射。光強(qiáng)度與...

  • 2025-12-08

    熱釋光劑量計(jì)是一種基于熱釋光效應(yīng)記錄累積輻射劑量的精密儀器,廣泛應(yīng)用于核防護(hù)、醫(yī)療監(jiān)測(cè)、環(huán)境評(píng)估及科研領(lǐng)域。其核心原理是:特定晶體材料(如氟化鋰LiF、氧化鈹BeO等)受電離輻射(X、γ、β、中子射線)照射后,晶格中的電子被激發(fā)并陷入缺陷(陷阱)中儲(chǔ)存能量;加熱時(shí),被俘獲的電子逃逸并返回基態(tài),釋放儲(chǔ)存的能量以可見(jiàn)光形式發(fā)射,光強(qiáng)度與吸收的輻射劑量成正比,通過(guò)測(cè)量光信號(hào)即可換算出累積劑量值。熱釋光劑量計(jì)的保養(yǎng)需圍繞其核心部件(探測(cè)器、加熱盤(pán)、電子元件)及使用環(huán)境展開(kāi),具體方法如...

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