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掩膜版｜保護膜表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS）為掩膜版、掩膜版保護膜以及基板（襯底）制造工藝，提供高通量的表面顆粒污染檢測服務(wù)。 該系統(tǒng)對粒徑大于 0.1µm 的顆粒具有高靈敏度，是一種高效且提供服務(wù)的選擇。它能以手動或自動的操作方式，以及較低的維護成本，取代傳統(tǒng)的顆粒檢測系統(tǒng)。

Fastmicro 晶圓表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS)，專為各行業(yè)產(chǎn)品表面顆粒污染物直接測量而設(shè)計，主要應(yīng)用于半導體領(lǐng)域的晶圓、薄膜及光罩檢測，也可用于顯示市場等基板檢測。該系統(tǒng)配備 4-12 英寸視場（FOV）掃描區(qū)域，支持上下表面檢測。其光學設(shè)計使產(chǎn)品在計量過程中無需移動即可完成檢測。該系統(tǒng)可根據(jù)不同生產(chǎn)工藝需求進行定制，或直接集成至產(chǎn)線。

Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀，是一款基于“膠帶粘取”采樣技術(shù)的表面污染檢測工具，可通過間接測量方式識別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 PMC 采樣卡能在各類表面（包括難以觸及區(qū)域和高粗糙度表面）實現(xiàn)靈活采樣，且不會殘留可檢測的痕跡。該設(shè)備可在數(shù)秒內(nèi)完成 225 mm2 采樣區(qū)域的分析，確保快速獲得精準檢測結(jié)果。搭配 2 英寸晶圓支架，也可對沉降顆粒進行檢測，滿足跨行業(yè)復雜

Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實時監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā)，支持秒級間隔的數(shù)據(jù)采集，精準測量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng)，幫助客戶實現(xiàn)從單純空氣監(jiān)測向表面潔凈度監(jiān)測的跨越式升級，為工藝流程優(yōu)化和潔凈度持續(xù)改進提供科學依據(jù)。